Дисперсионный КР-микроскоп Senterra, Киев

Высокие технические характеристики спектрального КР-микроскопа Senterra отвечают требованиям как аналитических, так и исследовательских задач. Наиболее важной особенностью Senterra, среди прочих, является встроенная функция постоянной калибровки по длине волны, что обеспечивает высочайшую точность по волновому числу без использования внешних стандартов.
Конструкция Senterra включает в себя множество новейших достижений и несколько запатентованных технических решений:
Постоянная калибровка Sure_Cal®
Компактное устройство спектрометра в составе микроскопа
Множество длин волн возбуждения: 1064нм, 830нм, 785нм, 633нм, 532нм и 488нм
Высококачественное конфокальное изучение вертикального профиля образца с помощью функции FlexFocusTM
Функция автоматического удаления флуоресценции (AFR) методом SERDS
Версия с открытой геометрией для исследования крупных образцов (например, произведений искусства) с высоким пространственным разрешением
Инвертированное положение образца для исследования живых клеток
Комбинация с атомно-силовым микроскопом (AFM)
Компактность и надежность конструкции
Большинство серийных КР-микроскопов используют спектрометры как отдельный от микроскопа прибор. В Senterra спектрометр с несколькими возбуждающими лазерами установлен между окном отраженного излучения и бинокуляром микроскопа. Короткий оптический путь, благодаря компактности прибора, обеспечивает высокую чувствительность, стабильность и надежность использования.
Используемые технологии защищены одним или более патентами: US 6,141,095; US 7,102,746