ИК-Фурье-микроскопы HYPERION, Киев

Серия HYPERION является результатом более чем 25-летнего опыта специалистов Bruker в области ИК-Фурье микроанализа. Совершенная конструкция оптической системы, механики и электроники прибора обеспечивает высокую стабильность и надежность. HYPERION позволяет просто и эффективно провести высококачественный микроанализ с помощью множества самых современных устройств, специальных объективов и средств изображения химического состава. Модульная конструкция дает возможность адаптировать HYPERION к требованиям поставленной задачи. Область таких задач самая широкая: материаловедение, исследование полимеров, общая химия, криминалистика, исследование произведений искусства, биология и минералогия.
Чувствительность и пространственное разрешение, ограниченное только дифракцией падающего света. Благодаря большой светосиле высокая чувствительность обеспечивается даже при высоком пространственном разрешении
Ход лучей в микроскопе Hyperion конфокальный, апертуры могут находиться в плоскости изображения и перед и после образца, как в режиме пропускания, так и отражения. В стандартной комплектации Hyperion устанавливается одна ножевая апертура. Возможна установка дополнительных металлических ножевых ирисовых апертур, в том числе системы автоматизированной смены апертур.
Приспособления для измерения образцов.
Для ИК-Фурье спектроскопии микрообъектов в режиме пропускания образцы должны быть оптически тонкими, т.е. обычно толщиной Б-15 м. Если образцы расположены на отражающей подложке, можно применять режим отражения. Штатно предлагается 15-кратный объектив, а для более мелких образцов 20 и 36-кратные объективы. Для неотражающих и непрозрачных образцов может использоваться режим НПВО (нарушенного полного внутреннего отражения).
Специальный 20-ти кратный НПВО-объектив обеспечивает возможность визуального наблюдения образца без ущерба для чувствительности измерений. Можно подобрать оптимальное давление НПВО кристалла на образец в зависимости от его твердости. Встроенный датчик давления постоянно поддерживает оптимальный контакт между НПВО кристаллом и образцом даже в режиме автоматического сканирования поверхности.
Для сверхтонких образцов на металлических поверхностях следует использовать метод отражения скользящего луча, который увеличивает взаимодействие между ИК-излучением и образцом. Благодаря запатентованной конструкции объектива скользящего угла (Bruker Optics), достигается высочайшая чувствительность, что позволяет исследовать даже мономолекулярные слои, в том числе в поляризованном свете.

Характеристики ИК-Фурье-микроскопов HYPERION

• — Бренд: Hyperion