Рентгено-флуоресцентный спектрометр ARL 9900 Workstation, Мариуполь
Описание товара
- Анализ элементов от Be до U
- Анализ твердых и порошковых проб
- Последовательный анализ на гониометрах SmartGonio и F55 (до 9 кристаллов-монохроматоров)
- Одновременный анализ с использованием до 32 каналов
- Компактная запатентованная дифракционная система XRD
- Рентгеновская рабочая станция WorkStation с системой дифракции NeXRD
- Серия приборов мощностью от 600 Вт до 4,2 кВт
- Высокоэффективная трубка с Rh анодом и тонким торцевым Be окном (75 мкм). Для решения специальных задач предлагается рентгеновская трубка с Be окном толщиной 50 мкм
- Программы бесстандартного анализа QuantAS , UniQuant®, OptiQuant
Две технологии, интегрированные в одном приборе
Рентгеновская флуоресценция (XRF) и рентгеновская дифракция (XRD) в одном приборе.
Методом рентгеновской флуоресценции (XRF) определяется только элементный состав проб, а метод рентгеновской дифракции (XRD) позволяет получить информацию о минералогии материала. В типичном кристаллическом образце XRF определяет, например, общее содержание кальция (Ca) или железа (Fe). XRD выполняет анализ фазового состава таких кристаллических материалов, как скальные породы, минералы и оксиды. На одном и том же образце метод рентгеновской дифракции позволяет сделать шаг вперед и получить информацию о содержании CaO, CaCO3, Ca(OH)2 и других фаз кальция, или о содержании FeO, Fe2O3, Fe3O4, Fe3C и других фаз Fe. Комбинация результатов анализа методами XRF и XRD позволяет получить более полную информацию о данном кристаллическом образце.
Когда нужны оба вида анализа: элементный и структурный, приходится устанавливать два отдельных рентгеновских прибора, которые обходятся потребителю достаточно дорого.
Инновационная дифракционная система, установленная в прибор ARL 9900, позволяет комбинировать оба метода анализа в одном приборе со следующими преимуществами для пользователя:
- Ввод только одного образца
- Высокие аналитические характеристики благодаря построению единой системы калибровки для исследуемого материала
- Один пользовательский интерфейс на оба метода
- Результаты элементного и структурного анализа в одном аналитическом отчете
- Минимум занимаемой площади
Компактная встроенная XRD система
Компактная встроенная XRD система способна производить качественное сканирование и количественный анализ благодаря высокоточной системе позиционирования, использующей эффект муаровых полос. Точность позиционирования проб обеспечивается системой точного позиционирования и параллельной геометрией рентгеновского излучения. Отличная чувствительность и воспроизводимость результатов анализа таких чувствительных фаз, как свободная известь, достигается за счет вакуумной камеры и стабильной температуры аналитической емкости спектрометра.
Некоторые типичные и документированные области применения:
- Свободная известь в клинкере и в шлаке
- Фазы клинкера
- Определение Fe2+ в агломератах
- Фазы железа в процессах прямого восстановления железа
- Фазы электролита в алюминиевой промышленности
- Другие минералы и руды
Товары, похожие на Рентгено-флуоресцентный спектрометр ARL 9900 Workstation
Заявленная компанией Термо Техно Украина, ООО цена товара «Рентгено-флуоресцентный спектрометр ARL 9900 Workstation» может не быть окончательной ценой продажи. Для получения подробной информации о наличии и стоимости указанных товаров и услуг, пожалуйста, свяжитесь с представителями компании Термо Техно Украина, ООО по указанным телефону или адресу электронной почты.